阻抗分析儀 HIOKI IM3570
日置HIOKI IM3570阻抗分析儀簡介：日置IM3570阻抗分析儀適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量。
日置HIOKI IM3570阻抗分析儀特點：
1、基本精度±0.08%的高精度測量，分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量。
2、LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量。
3、日置IM3570阻抗分析儀適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量。
4、1臺儀器實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續測量和高速檢查。
日置HIOKI IM3570阻抗分析儀技術參數：
測量模式
LCR（LCR測量），分析儀（掃描測量），連續測量
測量參數
Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流電阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q
測量量程
100mΩ~100MΩ，12檔量程（所有參數由Z確定）
日置IM3570阻抗分析儀顯示范圍
Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[單位]~9.999999G[單位]，僅Z和Y顯示絕對值
θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999）
Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%）
基本精度
Z：±0.08%rdg. θ：±0.05°
測量頻率
4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步進）
測量信號電平
V模式，CV模式（普通模式）
50mV~1Vrms，1mVrms步進（1MHz以下）
10mV~1Vrms，1mVrms步進（1.0001MHz以上）
CC模式（普通模式）
10μA~50mArms，10uArms步進（1MHz以下）
10μA~10mArms，10uArms步進（1.0001MHz以上）
輸出阻抗
普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω
顯示
彩色TFT5.7英寸，可設置顯示ON/OFF
測量時間
0.5ms（100kHz，FAST，顯示OFF，代表值
測量速度
FAST/MED/SLOW/SLOW2
其他功能
DC偏壓測量，比較功能，面板讀取和保存，存儲功
接口
EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通訊，U盤，LAN
電源
AC90~264V，50/60Hz，最大150V
打印
拷貝測量值或屏幕顯示的要點（需用9442，9593-01和9446
日置IM3570阻抗分析儀接口
GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有標準)
電源
AC90~264V，50/60Hz，最大150VA
體積和重量
330W×119H×307Dmm，5.8kg
（ssy46450微號詳談)
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溫馨提示：儀器的壽命長短是靠自身去維護的，如在不使用的情況下請定期燒機，清理衛生以保持周邊環境的清潔和干燥。
